四探針電阻率測(cè)試儀 / 便攜式電阻率測(cè)試儀（此款帶軟件）

產(chǎn)品簡介：

便攜式電阻率測(cè)試儀是用來測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器

產(chǎn)品型號(hào)：JCKDY-1

更新時(shí)間：2024-04-09

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：2275

服務(wù)熱線

18701357500

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

行業(yè)專用檢測(cè)儀器

水分測(cè)定儀紙張檢測(cè)儀器環(huán)保設(shè)備其他檢測(cè)類美國福祿克系列張力計(jì)/壓力計(jì)系列全站儀/水準(zhǔn)儀系列哈納（HANNA）儀器系列直流電阻電橋系列德國羅威邦系列輻射類儀器照度計(jì) 醫(yī)藥行業(yè)檢測(cè)儀器室內(nèi)檢測(cè)儀器石油化工儀器教學(xué)系列儀器測(cè)溫儀器通用分析儀器泰克曼系列衡欣AZ系列冷媒檢漏儀機(jī)動(dòng)車檢測(cè)儀器毛細(xì)管流量檢測(cè)儀煤礦檢測(cè)儀器靜壓計(jì) 數(shù)顯氣壓計(jì) 折射儀信號(hào)發(fā)生器流速儀亮度計(jì) 電力電工儀表系列無損檢測(cè)儀器

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產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品名稱：

四探針電阻率測(cè)試儀 ， 便攜式電阻率測(cè)試儀，電阻率測(cè)試儀

便攜式電阻率測(cè)試儀的簡介：

1 、便攜式電阻率測(cè)試儀概述

四探針電阻率測(cè)試儀的 主要技術(shù)指標(biāo)

（1）儀器采用GB/T 1552-1995硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法

（2）范圍：電阻率10^-4～10⁺⁴歐姆·厘米，分辨率為10^-4歐姆·厘米

方塊電阻10^-3～10⁺⁵歐姆/□，zui小分辨率為10^-3歐姆/□

（3）可測(cè)量材料：半導(dǎo)體材料硅鍺棒、塊、片、導(dǎo)電薄膜等

可準(zhǔn)確測(cè)量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥20㎜

可測(cè)量的半導(dǎo)體尺寸：直徑≥8㎜

（4）測(cè)量方式：平面測(cè)量。

（5）電壓表：雙數(shù)字電壓表，可同時(shí)觀察電流、電壓變化

A.量程0~199.99 mV

B.基本誤差±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）

C.輸入阻抗﹥1000MΩ

D. 4 1/2位數(shù)字顯示，0～19999

（6）恒流源：

A.電流輸出：直流電流0.003～100 mA連續(xù)可調(diào)，有交流電源供給

B.量程：10uA，100uA，1 mA，10 mA，100 mA五檔

C.恒流源精度：各檔均≤±0.05%

（7）四探針測(cè)試探頭

A.探頭間距1.59㎜

B.探針機(jī)械游率：±0.3%

C.探針直徑0.8㎜

D.探針材料：碳化鎢，探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于10⁹歐姆。

（8） 便攜式電阻率測(cè)試儀手動(dòng)測(cè)試架：

JCKDJ-1A 型手動(dòng)測(cè)試架探頭上下由手動(dòng)操作，可以用作斷面單晶棒和硅片測(cè)試，探針頭可上下移動(dòng)距離：120mm，測(cè)試臺(tái)面200x200（mm）。

（9） 便攜式電阻率測(cè)試儀測(cè)量軟件：

JCKDY測(cè)量系統(tǒng)微控制器及配套軟件于硅晶體的電阻率測(cè)量，集多種測(cè)量方法為一體，是與JCKDY-1電阻率測(cè)試儀配套使用，自動(dòng)獲取電壓讀數(shù)，計(jì)算并修正電阻率值，數(shù)據(jù)自動(dòng)保存，快速查詢，提供打印及數(shù)據(jù)導(dǎo)出到Excel中，操作簡單，方便可靠。

（10 ） 四探針電阻率測(cè)試儀精度

電器精度：1-1000歐姆≤0.3 %

整機(jī)測(cè)量精度：1-500歐姆·厘米≤3%

（11）電流：220V±10%，50HZ，功率消耗﹤35W