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          常見粒度儀的幾種測(cè)試方法

          更新時(shí)間:2013-01-09點(diǎn)擊次數(shù):1439

          1)篩分法。優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于40um的樣品。缺點(diǎn):結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

                (2)顯微鏡(圖像)法。優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀,可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10:1)的樣品。缺點(diǎn):代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無法分析小于1um的樣品。

                (3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。優(yōu)點(diǎn):操作漸變,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較廣。缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),操作比較繁瑣。

                (4)電阻法。優(yōu)點(diǎn):操作漸變可測(cè)顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn):不適合測(cè)量小于0.1um的顆粒樣品,對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

                (5)激光法。優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度快,測(cè)試范圍廣,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn):結(jié)果受分布模型影響較大,儀器造價(jià)較高,分辨力低。
           

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